TH2838，TH2838H，TH2838A 是采用自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%的基本精度、快達5.6ms 的測試速度、20Hz-2MHz的頻率范圍及高達1GΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于測量低D電容器和高Q 電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。TH2838，TH2838H，TH2838A 支持20V交流測試信號和40V直流偏置的高功率測試條件、增強的多參數(shù)列表掃描/多參數(shù)圖形分析能力將有利于用戶擴展元件全面評價的能力。TH2838，TH2838H，TH2838A 是電子元器件設計、檢驗、質量控制和生產(chǎn)測試的強有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設計和開發(fā)以及材料（電子材料和非電子材料）的研究和開發(fā)提供了強有力的工具。TH2838，TH2838H，TH2838A 以其性能可以實現(xiàn)如IEC和MIL標準的各種測試。

精密阻抗分析儀TH2838

• 應用

• ■ 無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。

  ■ 半導體元件：LED驅動集成電路寄生參數(shù)測試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

  ■ 其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

  ■ 介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

  ■ 磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

  ■ 半導體材料：半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性

  ■ 液晶單元：介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

■ LCR自動平衡測試理論是美國HP公司一九八幾年提出來的，這是全*好測試方法。自動平衡保證全頻段測試的精度：

■ 普通電橋是使用運放采樣信號，運放缺點輸入端有偏置電流，流過被測件跟流過采樣電阻的電流不一致，電流的誤差是取消不了的，清零是沒用的。

■ 自動平衡不采用運放， 而采用FPGA加高速ADC采樣，另外做了一個信號源同時加在被測件上，來抵消普通LCR這種誤差,用這種方法能保證更高的測試精度跟測試范圍。

■ 目前市面上只有同惠的LCR采用自動平衡測試原理。